說明:
測溫晶體又稱輻照晶體溫度傳感器,其基于輻照缺陷的熱穩定性,實現最高溫度測量,屬于離線測溫技術。構型不同的輻照缺陷具有不同的熱穩定性,低于熱穩定性所對應的溫度,輻照缺陷能夠穩定存在,高于熱穩定性所對應的溫度輻照缺陷回復,而具有更高熱穩定性的缺陷由于在此溫度下具有較好的穩定性而依然存活。輻照缺陷回復的一般特征是,隨著溫度的升高回復率逐漸增大。輻照缺陷回復程度與溫度密切相關,二者具有特定對應關系。輻照缺陷回復程度利用測試缺陷回復率進行定量化,對測溫晶體缺陷回復率與熱處理溫度全過程進行標定,實現測溫功能。該測溫技術使用方便,操作簡單,存活率高,尤其適應于常規測溫方法無法實施或難以實施的場合,例如高速旋轉的部件、封閉或半封閉環境內的部件、難以觸及的高速飛行器表面,可有效實現航空發動機、燃氣輪機和火箭發動機渦輪、動葉、導葉、燃燒室等部件溫度的測量。測溫晶體尺寸小,不占用額外空間,無需附加支撐件或引線,對原溫場無干擾,可大量布點。使用過程,利用待測部件自支撐,將其埋入試件待測點即可實施測溫,無需考慮測溫環境是否狹窄,待測部件是否旋轉,待測部位外形是否規則,對試件的拐角、凸起、凹陷等部位均可實施測溫。微型測溫晶體尺寸約0.2mm,測溫范圍200/350/500-1400/1500/1800℃,精度優于1.5%,響應時間≥5分鐘。